2025
01-22
白光干涉为什么对于环境防振要求那么高
白光干涉对于环境防振要求高的原因，主要可以从其测量原理和应用需求两个方面来解释。一、测量原理白光干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。光源发出的光经过扩束准直后经分光棱镜分成两束，一束光经被测表面反射回来，另一束光经...
2025
01-20
测量探头的 “温漂” 问题，对于氮化镓衬...
在半导体制造这一微观且精密的领域里，氮化镓（GaN）衬底作为高端芯片的关键基石，正支撑着光电器件、功率器件等众多前沿应用蓬勃发展。然而，氮化镓衬底厚度测量的准确性却常常受到一个隐匿 “敌手” 的威胁 —— 测量探头的 “温漂” 问题。这一看...
2025
01-17
不同的氮化镓衬底的吸附方案，对测量氮化镓...
在当今高速发展的半导体产业浪潮中，氮化镓（GaN）衬底宛如一颗耀眼的新星，凭借其卓越的电学与光学性能，在众多高端芯片制造领域，尤其是光电器件、功率器件等方向，开拓出广阔的应用天地。然而，要想充分发挥氮化镓衬底的优势，确保其 BOW（弯曲度）...
2025
01-16
氮化镓衬底的环吸方案相比其他吸附方案，对...
在半导体领域的璀璨星河中，氮化镓（GaN）衬底正凭借其优异的性能，如高电子迁移率、宽禁带等特性，在光电器件、功率器件等诸多应用场景中崭露头角，成为推动行业发展的关键力量。而对于氮化镓衬底而言，其 BOW（弯曲度）和 WARP（翘曲度）的精确...
2025
01-15
测量探头的 “温漂” 问题，都是怎么产生...
在半导体制造这一高精尖领域，碳化硅衬底作为支撑新一代芯片性能飞跃的关键基础材料，其厚度测量的准确性如同精密机械运转的核心齿轮，容不得丝毫差错。然而，测量探头的 “温漂” 问题却如隐匿在暗处的 “幽灵”，悄然干扰着测量进程，深刻影响着碳化硅衬...
2025
01-14
测量探头的 “温漂” 问题，对于碳化硅衬...
在半导体制造的微观世界里，碳化硅衬底作为新一代芯片的关键基石，其厚度测量的精准性如同精密建筑的根基，不容有丝毫偏差。然而，测量探头的 “温漂” 问题却如同一股暗流，悄然冲击着这一精准测量的防线，给碳化硅衬底厚度测量带来诸多实际且棘手的影响。...